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1. **X射線熒光光譜儀(XRF)**:用于分析陶瓷中的化學成分,特別是金屬元素的含量和分布情況。
2. **掃描電子顯微鏡(SEM)**:能夠觀察陶瓷表面和斷面的微觀結構,幫助分析其成分、晶體結構和缺陷。
3. **X射線衍射儀(XRD)**:用于分析陶瓷中的晶體結構,能夠確定其晶體相和結晶度。
4. **熱重分析儀(TGA)**:用于分析陶瓷中的吸附水、有機物或其他揮發物質的含量和性質。
5. **紅外光譜儀(FTIR)**:通過分析陶瓷的紅外光譜,可以確定其分子結構和化學成分。
6. **電子探針顯微鏡(EPMA)**:能夠進行元素分析和成分分析,對于陶瓷中微小區域的成分分布具有較高的分辨率。
7. **超聲波檢測儀**:用于檢測陶瓷中的內部缺陷和裂紋,如超聲波探傷儀等。
以上儀器和設備在陶瓷材料的研究、生產和質量控制過程中發揮著重要作用,不同的儀器可以提供不同層次和類型的信息,幫助分析和評估陶瓷的性能和質量。